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高辨率X射線衍射儀

簡要描述:高辨率X射線衍射儀主要應用于粉末、塊狀或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體結構分析、材料結構分析、晶體的取向性分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等。

產品型號: BXS05-TD-3500

所屬分類:質譜

更新時間:2024-08-19

廠商性質:生產廠家

詳情介紹

關鍵詞:BXS05-TD-3500高辨率X射線衍射儀 

X射線衍射儀   高辨率衍射儀    衍射分析儀     衍射儀

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產品介紹: 

X 射線衍射儀主要應用于粉末、塊狀或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體結構分析、材料結構分析、晶體的取向性分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等。 

產品特點: 

整機采用可編程序控制器 PLC 控制技術;操作方便,一鍵式采集系統;模塊化設計,配件即插即用,無需校準;觸摸屏實時在線監測,顯示儀器狀態;高功率 X 射線發生器,性能穩定可靠;電子鉛門聯鎖裝置,雙重防護,確保使用者安全。 

技術參數: 

掃描范圍:-110~161°; 

掃描方式:透射、步進、連續、OMG; 

最小步進角度:0.0001°; 

2θ角重復精度:0.0001°; 

全譜圖 2θ 角線性精度:≤±0.01°。




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